Innovatives Bitfehler-Korrekturverfahren für Speichermedien



Datenfehler, Fehlererkennung, Speicherzelle, Mikroprozessor, redundante digitale Speicherung

Kurzbeschreibung:
In einem elektronischen Bauteil können einzelne oder auch mehrere Bits infolge thermischer Fluktuationen "umklappen", also ihren Schaltungszustand ändern, ohne dass dies gewünscht ist (SEU-Modell, engl. für „Single Event Upset“). Das neue Bitfehler-Korrekturverfahren löst das Problem durch die Kombination einer Fehlererkennung sowie -korrektur in Speicherworten und einem automatischen Überschreiben von Speicherzellen, deren Inhalt als fehlerhaft erkannt wurde, mit dem korrigierten Inhalt. Das Verfahren ist nicht von der Art der verwendeten Fehlerkorrektur abhängig und damit universell einsetzbar.

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TransMIT GmbH
Kerkrader Str. 3
35394 Gießen
Telefon: +49 (6 41) 9 43 64 - 0
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