TransMIT-Projektbereich für dünne Filme aus organischen und organisch-anorganischen Hybridmaterialien

c/o Institut für Angewandte Physik
Heinrich-Buff-Ring 16
35392 Gießen
+49 (6 41) 99 - 3 34 01
+49 (6 41) 99 - 3 34 09
Leistungsspektrum
Unternehmensgegenstand des TransMIT-Projektbereichs für dünne Filme aus organischen und Hybridmaterialien sind Dienstleistungen auf dem Gebiet der Dünnschicht­technologien. Dünne Filme aus organischen Pigmenten, Farbstoffen und Halbleitern, Polymeren sowie Hybrid­materialien dieser Stoffe mit anorganischen Halbleitern stellen den Schwerpunkt dar. Klassische Materialien wie Metalle oder Halbleiter werden ebenfalls im Projektbereich bearbeitet und dienen häufig als Kontaktphasen.

Das Methodenspektrum des Projektbereichs umfasst die Präparation von dünnen Filmen in Laboranlagen mittels klassischer Vakuum­verfahren wie Aufdampfen, Elektronen­strahlverdampfung, Kathoden­strahl­­zerstäubung ("Sputtern") oder lösungsbasierter Ver­fahren. Hier stehen standardisierte Verfahren in Laborbelackungsanlagen ("spin-coating") zur Ver­fügung, die entweder unter Umgebungsluft oder unter Inertbedingungen in einer Handschuhbox durchgeführt werden können. Als Besonderheit des Projektbereichs stehen elektrochemisch induzierte Prozesse zur Verfügung, die in geeigneten mit Inertgas oder Reaktivgasen gespülten Zellen durchgeführt werden können, zur Verfügung. Diese Prozesse sind für jede Art von elektrisch leitfähigen Trägern geeignet. Es können vorzugsweise empfindliche Substrate beschichtet werden. Prozesse zur Beschichtung mit Metallen, Halbleitern oder Hybridmaterialien sind besonders geeignet für elektro­chemische Abscheidungen. Es können Träger komplizierter, auch dreidimensionaler Geometrie beschichtet werden. Es können kompakte oder nanostrukturierte Filme erhalten werden, je nach Anwendungsfeld des Kunden. Auch mikroskopische Objekte wie Drähte oder mikrostrukturierte Elektrodenfelder sind sehr geeignet.

Neben der Präparation der Filme bieten wir Dienstleistungen in der Analyse dünner Filme an. Neben detailliert bis in den Nanometerbereich analysierender Rasterelektronen­mikroskopie (REM, SEM), Rasterkraft­mikroskopie (AFM) stehen für den Mikrometerbereich besonders effizient analysierende konfokale Lasermikroskopie und ein Profilometer zur Verfügung. Zur elektrischen Charakterisierung finden Leitwert­messungen, photovoltaische Charakterisierung und Impedanzanalyse in Schichtstrukturen oder mit Messspitzen Anwendung. Neben diesen physikalischen Charakter­isierungs­methoden werden in unserem Projektbereich vor allem elektro­chemische Messmethoden verwendet. Neben Impedanz­analyse und klassischen voltammetrischen Methoden kommen dabei simultane optische Analyse (Spektro­elektrochemie) und Messungen unter simultaner Belichtung (Photoelektrochemie) zum Einsatz. Optische Absorption in Transmission an Luft oder im Vakuum, in gerichteter oder diffuser Reflexion (Ulbricht- Kugel) sowie Infrarotspektroskopie runden das im Projektbereich direkt zur Verfügung stehende Spektrum an Analysemethoden ab.

Wir können unterschiedliche Formen der Zusammenarbeit anbieten, von reiner Beratung und der Durchführung von Machbarkeitsstudien über die Entwicklung oder Anpassung von Prozessen für den speziellen Kundenbedarf bis zur Herstellung von Funktionsmustern. Daneben sind aber auch Service- Messungen zur Charakterisierung von Kundenproben mit den uns zur Verfügung stehenden Methoden möglich.
Zielgruppen
Zielgruppe sind vor allem Unternehmen, die einen für ihre Problemlösung geeigneten Beschichtungsprozess mit uns unter Nutzung unserer Erfahrungen, Methoden und Geräte entwickeln bzw. optimieren wollen und/oder charakteristische strukturelle, optische, elektrische, photovoltaische oder elektrochemische Eigenschaften erreichen bzw. untersuchen möchten.
Leitung

Prof. Dr. Derck Schlettwein

c/o
Institut für Angewandte Physik
Heinrich-Buff-Ring 16
35392 Gießen
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